Основные технические характеристики:
Метод анализа: лазерная дифракция.
Диапазон измерения: 0,1–1000 мкм.
Точность: ≤1%.
Воспроизводимость: ≤1%.
Время измерения: менее 10 секунд.
Скорость сканирования: 3 кГц.
Источник света: полупроводниковый оптоволоконный лазер (635 нм, 3 мВт).
Оптическая система: технология двойного объектива (DLOS — Dual Lens Optical System), эффективное фокусное расстояние 223 мм.
